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波长分散型荧光X射线分析装置和采用它的荧光X射线分析方法

摘要

本发明的波长分散型荧光X射线分析装置包括:位置敏感型检测器(10),该位置敏感型检测器(10)通过对应的检测元件(7),检测不同的分光角度的二次X射线(41)的各强度;测定波谱显示机构(14),该测定波谱显示机构(14)将检测元件(7)的排列方向的位置和检测元件的检测强度的关系作为测定波谱而显示于显示器(15)中;检测区域设定机构(16),该检测区域设定机构(16)设定峰值区域和本底区域;定量机构(17),该定量机构(17)根据峰值区域的峰值强度、本底区域的本底强度与本底补偿系数,计算作为净强度的测定对象的荧光X射线的强度,进行定量分析。

著录项

  • 公开/公告号CN109196340B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社理学;

    申请/专利号CN201780028012.7

  • 申请日2017-08-31

  • 分类号G01N23/223(20060101);G01N23/207(20060101);

  • 代理机构11216 北京三幸商标专利事务所(普通合伙);

  • 代理人刘卓然

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 11:20:03

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