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Application of Scanning Electron Microscopy with Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy for Analyzing Ocular Surface Particles on Schirmer Strips

机译:扫描电子显微镜与能量色散X射线光谱法在分析Schirmer条上的眼表颗粒中的应用

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摘要

PurposeTo demonstrate the application of Scanning Electron Microscopy with Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy (SEM/EDS) for analyzing Schirmer strips for particle concentration, size, morphology, and type distribution.
机译:目的展示具有能量色散X射线光谱仪(SEM / EDS)的扫描电子显微镜在分析Schirmer试纸条上的颗粒浓度,大小,形态和类型分布的应用。

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