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TED 、ブラットフォーム開発 AI検査システムを低コスト化

机译:TED,标识开发AI检验系统低成本

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摘要

東京エレクトロンデバイス (TED)は、AI (人工知 能)検査システムを低コスト、 短期間で実現、不良品の流出 を防ぎ過検出を低減する「T ED AIプラットフォー 厶」を開発した。目視検査か らの置き換えや自動検査装置 と併用してのダブルチエツ ク、過検知対策としての需要 を見込hでいる。
机译:东京电子设备(TED)开发了一个“T ED AI平台”,实现了AI(人工智能)检查系统的低成本,短时间,减少了缺陷产品的流出。 预计对双武征的需求以及与视觉检测和自动检测装置相结合的检测措施。

著录项

  • 来源
    《化学工業日報》 |2019年第24036期|共1页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 化学工业;
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