机译:Al /(Bi2S3-PVA纳米复合材料)/ P-Si肖特基二极管的电流传输机制在220k和380K之间的温度范围内
Univ Mohaghegh Ardabili Dept Phys POB 179 Ardebil Iran;
Inst Adv Studies Basic Sci Dept Phys Zanjan 4513766731 Iran;
Univ Mohaghegh Ardabili Dept Phys POB 179 Ardebil Iran;
Gazi Univ Inst Sci &
Technol Dept Adv Technol Ankara Turkey;
Bismuth sulfide; capping agent; XRD; MPS structure; temperature and voltage dependence; current-transport mechanisms; barrier inhomogeneities;
机译:Al /(Bi2S3-PVA纳米复合材料)/ P-Si肖特基二极管的电流传输机制在220k和380K之间的温度范围内
机译:金/聚吡咯/ n-硅肖特基势垒二极管在110-360 K温度范围内的电流传输机制
机译:界面绝缘层和界面状态在宽温度范围内对肖特基二极管电流传输机制的作用
机译:宽温度范围内AlGaN / GaN HEMT中肖特基正向电流传输机制的分析
机译:使用砷化镓肖特基势垒二极管分析室温毫米波混频器。
机译:Al辐射对Al / DNA / p-Si肖特基势垒二极管电子参数的计算
机译:在80-360 k的温度范围内的AU / PVA / N-GAAAS肖特基二极管中的多平行二极管模型及传导机制调查(CMS)
机译:薄ptsi / p-si肖特基二极管的表征