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机译:液门控两层硅纳米线FET:控制单陷阱动态过程的证据
Forschungszentrum Julich Bioelect ICS 8 D-52428 Julich Germany;
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Silicon nanowire; modulation effect; single electron phenomena; gate coupling effect; noise spectroscopy; random telegraph signal noise;
机译:液门控两层硅纳米线FET:控制单陷阱动态过程的证据
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