机译:离子束溅射SiC薄膜在58.4至149.2 nm范围内的原位反射率和光学常数
机译:离子束溅射SiC薄膜在58.4至149.2 nm范围内的原位反射率和光学常数
机译:具有不同C / Si比的SiC的反射率测量和极端紫外-真空紫外区的光学常数
机译:离子束沉积SiC,Mo,Mg_(2)Si和InSb以及蒸发的Cr薄膜的极紫外反射率测量和光学常数
机译:从透射率和反射率数据看超薄铜酞菁薄膜的线性光学常数:当薄膜厚度低于20 nm时,误差函数最小化
机译:确定各向异性聚合物薄膜光学常数的新方法:棱镜波导耦合的新应用。
机译:ALD制备的亚20纳米厚TiO2薄膜的光学常数和带隙演化及相变
机译:通过反射率,透射率和膜厚测量来确定蒸发金属膜的近红外中的光学常数
机译:光学常数测定透射和反射基板上的薄膜