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Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II
Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II
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1.
InAs-GaSb-AlSb quantum confined structures for IR a
机译:
红外a的InAs-GaSb-AlSb量子约束结构
作者:
Craig A. Hoffman
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
Jerry R. Meyer
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
Filbert J. Bartoli
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
Jim R. Waterman
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
B.V. Shanabrook
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
B.R. Bennett
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA
;
R.J. Wagner
;
Naval Research Lab.
;
Washington
;
DC
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
2.
Linear optical constants of ultrathin copperphthalocyanine films fromtransmittance and reflectance data: error function minimization when the filmthickness is below 20 nm,
机译:
从透射率和反射率数据看超薄铜酞菁薄膜的线性光学常数:当薄膜厚度低于20 nm时,误差函数最小
作者:
Olaf Stenzel
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Ralf Petrich
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Steffen Wilbrandt
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Ulf Beckers
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Alexander Stendal
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Kersten Voigtsberger
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany
;
Christian von Borczyskowski
;
Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology
;
Chemnitz
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
3.
New process for the controlled formation of ultrathin PtSi films for infrared detector a
机译:
可控形成红外探测器用超薄PtSi膜的新工艺
作者:
Alfonso Torres
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Sabine Kolodinski
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Ricardo A. Donaton
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Karen Maex
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
P.Roussel
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
H.Bender
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
4.
Photorefractivity and holographic applications of azo-dye doped PMMArecording materials,
机译:
偶氮染料掺杂的PMMA记录材料的光折射率和全息应用
作者:
Vinh P. Pham
;
Univ. Laval
;
Quebec
;
PQ
;
Canada
;
Gurusamy Manivannan
;
Univ. Laval
;
Lowell
;
MA
;
USA
;
Roger A. Lessard
;
Univ. Laval
;
Quebec
;
PQ
;
Canada.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
5.
Determination of the composition of a complex semiconductor compound from its thermal emission spectrum
机译:
根据其热发射光谱确定复合半导体化合物的组成
作者:
Victor A. Botte
;
Institute of Semiconductor Physics
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
6.
Nondestructive characterization of Ti-doped and V-doped CdTe by time-dependent charge measurement
机译:
随时间变化的电荷测量对Ti和V掺杂CdTe的无损表征
作者:
Clemens Eiche
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Ralf Schwarz
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Wolfgang Joerger
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Michael Fiederle
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Dirk G. Ebling
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Klaus-Werner Benz
;
Univ. of Freiburg
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
7.
CdZnTe substrate and HgCdTe epilayer effects on the performance of photovoltaic diodes
机译:
CdZnTe衬底和HgCdTe外延层对光电二极管性能的影响
作者:
Martin Bruder
;
AEG AG
;
Heilbronn
;
Federal Republic of Germany
;
H.Figgemeier
;
AEG AG
;
Heilbronn
;
Federal Republic of Germany
;
L.Palm
;
AEG AG
;
Heilbronn
;
Federal Republic of Germany
;
Johann Ziegler
;
AEG AG
;
Heilbronn
;
Federal Republic of Germany
;
Horst Maier
;
AEG AG
;
Heilbronn
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
8.
Epitaxy of narrow gap IV-VI materials on Si(111) and Si(100) substrates: growth properties and thermal mismatch strain accommodation
机译:
Si(111)和Si(100)衬底上的窄间隙IV-VI材料的外延:生长特性和热失配应变适应
作者:
Hans Zogg
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zuerich
;
Switzerland
;
Peter Mueller
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zurich
;
Switzerland
;
Alexander Fach
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zurich
;
Switzerland
;
Joachim John
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zurich
;
Switzerland
;
Carmine Paglino
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zurich
;
Switzerland
;
A.N. Tiwari
;
Swiss Federal Institute of Technology
;
Zurich
;
Switzerland.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
9.
Evaluation of HgCdTe using laser beam induced current
机译:
利用激光束感应电流评估HgCdTe
作者:
Kenji Arinaga
;
Fujitsu Labs. Ltd.
;
Atsugi
;
Japan
;
Kazuo Ozaki
;
Fujitsu Labs. Ltd.
;
Atsugi
;
Japan
;
Gen Sudo
;
Fujitsu Labs. Ltd.
;
Atsugi
;
Japan
;
Nobuyuki Kajihara
;
Fujitsu Labs. Ltd.
;
Atsugi
;
Japan.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
10.
InAs/GaSb superlattices characterized by high-resolution x-ray diffraction and infrared optical spectroscopy
机译:
InAs / GaSb超晶格的特征在于高分辨率X射线衍射和红外光谱
作者:
F.Fuchs
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg im Breisgau
;
Federal Republic of Germany
;
N.Herres
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg Im Breisgau
;
Federal Republic of Germany
;
J.Schmitz
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg Im Breisgau
;
Federal Republic of Germany
;
K.M. Pavlov
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Joachim Wagner
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg Im Breisgau
;
Federal Republic of Germany
;
Peter Koidl
;
Fraunhofer-Institut fuer Angewandte Festkoerperphysik
;
Freiburg Im Breisgau
;
Federal Republic of Germany
;
J.H. Roslund
;
Chalmers Univ. of Technology
;
Goeteborg
;
Sweden.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
11.
Luminescent properties of nitrogen doped gap semiconductor studied with photothermal deflection spectroscopy
机译:
氮掺杂间隙半导体的光热偏转光谱研究
作者:
Mianyu Dong
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Zu-chang Ding
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Limin Tong
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China
;
Yihua Shao
;
Zhejiang Univ.
;
Hangzhou
;
China.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
12.
Advances in infrared antimonide technology
机译:
红外锑技术的进步
作者:
William F. Micklethwaite
;
Firebird Semiconductors Ltd.
;
Rossland
;
BC
;
Canada.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
13.
Photochromics-doped polymer systems as erasable holographic recording media
机译:
掺杂光致变色聚合物体系作为可擦除全息记录介质
作者:
Fatima Ghailane
;
Univ. Laval
;
Quebec
;
PQ
;
Canada
;
Gurusamy Manivannan
;
Univ. Laval
;
Lowell
;
MA
;
USA
;
Roger A. Lessard
;
Univ. Laval
;
Quebec
;
PQ
;
Canada.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
14.
Processing and characterization of a 128 x 128 GaAs/GaAlAs quantum well infrared detector array
机译:
128 x 128 GaAs / GaAlAs量子阱红外探测器阵列的处理和表征
作者:
Shmuel I. Borenstain
;
Jerusalem College of Technology
;
Jerusalem
;
Israel
;
U.Arad
;
Jerusalem College of Technology
;
Jerusalem
;
Israel
;
S.Afanasyev
;
Jerusalem College of Technology
;
Jerusalem
;
Israel
;
I.Luybina
;
Jerusalem College of Technology
;
Jerusalem
;
Israel
;
A.Segal
;
Jerusalem College of Technology
;
Jerusalem
;
Israel.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
15.
Depolarization effects in ellipsometric measurements of thick layers
机译:
椭偏测量中厚层的去极化作用
作者:
Konstantin Forcht
;
Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Ralph Joerger
;
Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Andreas Gombert
;
Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Michael Koehl
;
Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany
;
Wolfgang Graf
;
Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems
;
Freiburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
16.
Molecular beam epitaxial growth and optical properties of (001) HgTe/Hg1-xCdxTe superlattices
机译:
(001)HgTe / Hg1-xCdxTe超晶格的分子束外延生长和光学性质
作者:
Charles R. Becker
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
V.Latussek
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
Wolfgang Spahn
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
F.Goschenhofer
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
S.Oehling
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany
;
Gottfried Landwehr
;
Physikalisches Institut der Univ. Wuerzburg
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
17.
Linear optical constants of ultrathin copperphthalocyanine films from transmittance and reflectance data: error function minimization when the film thickness is below 20 nm
机译:
从透射率和反射率数据看超薄铜酞菁薄膜的线性光学常数:当薄膜厚度低于20 nm时,误差函数最小化
作者:
Author(s): Olaf Stenzel Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Ralf Petrich Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Steffen Wilbrandt Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Ulf Beckers Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Alexander Stendal Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Kersten Voigtsberger Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany
;
Christian von Borczyskowski Chemnitz-Zwickau Univ. of Technology Chemnitz Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
18.
Characterization of candidate bonding glasses for composite IR window structures
机译:
用于复合红外窗户结构的候选粘合玻璃的表征
作者:
Jennifer M. McKinley
;
CREOL/Univ. of Central Florida
;
Orlando
;
FL
;
USA
;
K.A. Richardson
;
CREOL/Univ. of Central Florida
;
Orlando
;
FL
;
USA
;
Fred B. Hagedorn
;
Westinghouse Electro-Optical Systems
;
Orlando
;
FL
;
USA
;
William F. Cashion
;
Westinghouse Electro-Optical Systems
;
Orlando
;
FL
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
19.
CoSi2/Si1-xGex interfaces for Schottky barrier infrared detectors with extended detection regime
机译:
具有扩展检测范围的肖特基势垒红外探测器的CoSi2 / Si1-xGex接口
作者:
Sabine Kolodinski
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Ricardo A. Donaton
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Elisenda Roca
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Matty Caymax
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium
;
Karen Maex
;
IMEC
;
Leuven
;
Belgium.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
20.
Direct MBE growth of HgCdTe(112) IR detector structures on Si(112) substrates
机译:
HgCdTe(112)红外探测器结构在MBe生长的Si(112)衬底上
作者:
Terry J. de Lyon
;
Hughes Research Labs.
;
Malibu
;
CA
;
USA
;
Rajesh D. Rajavel
;
Hughes Research Labs.
;
Malibu
;
CA
;
USA
;
Owen K. Wu
;
Hughes Research Labs.
;
Malibu
;
CA
;
USA
;
Scott M. Johnson
;
Santa Barbara Research Ctr.
;
Goleta
;
CA
;
USA
;
C. Art Cockrum
;
Santa Barbara Research Ctr.
;
Goleta
;
CA
;
USA
;
G.M. Venzor
;
Santa Barbara Research Ctr.
;
Goleta
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
21.
Iso-VPE growth of Hg1-xCdxTe on hybrid substrates
机译:
Hg1-xCdxTe在杂化底物上的Iso-VPE生长
作者:
Sergio Bernardi
;
Consorzio CREO
;
LAquila
;
Italy.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
22.
Charge spectroscopy of localized states in thin film heterostructures
机译:
薄膜异质结构中局部状态的电荷光谱
作者:
Sergey L. Vinogradov
;
P.N. Lebedev Physical Institute
;
Troitsk
;
Moscow
;
Russia.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
23.
Optical properties of extended-chain polymers under stress
机译:
应力作用下长链聚合物的光学性质
作者:
Rafael G. Ramirez
;
Univ. of Akron
;
Austin
;
TX
;
USA
;
R.K. Eby
;
Univ. of Akron
;
Akron
;
OH
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
24.
Photorefractivity and holographic applications of azo-dye doped PMMA recording materials
机译:
偶氮染料掺杂的PMMA记录材料的光折射率和全息应用
作者:
Author(s): Vinh P. Pham Univ. Laval Quebec PQ Canada
;
Gurusamy Manivannan Univ. Laval Lowell MA USA
;
Roger A. Lessard Univ. Laval Quebec PQ Canada.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
25.
Combined FD-CM numerical analysis of coplanar electrode waveguide for LiNbO3 automatic polarization controller
机译:
LiNbO3自动极化控制器的共面电极波导的FD-CM组合数值分析
作者:
Shyh-Lin Tsao
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Way-Seen Wang
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Jingshown Wu
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Hong-Cheng Jian
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
26.
Growth and properties of semiconductor bolometers for infrared detection
机译:
用于红外检测的半导体辐射热计的生长和特性
作者:
Mark H. Unewisse
;
Defence Science
;
Technology Organisation
;
Salisbury
;
SA
;
Australia
;
Brian I. Craig
;
Defence Science
;
Technology Organisation
;
Salisbury
;
SA
;
Australia
;
Rodney J. Watson
;
Defence Science
;
Technology Organisation
;
Salisbury
;
South Australia
;
Australia
;
Olaf Reinhold
;
Defence Science
;
Technology Organisation
;
Salisbury
;
SA
;
Australia
;
Kevin C. Liddiard
;
Defence Science
;
Technology Organisation
;
Linkoping
;
Sweden.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
27.
Nondestructive characterization technique for most n-type semiconductors including infrared detector materials
机译:
包括红外探测器材料在内的大多数n型半导体的无损表征技术
作者:
Frederick W. Clarke
;
U.S. Army Missile Command
;
Redstone Arsenal
;
AL
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
28.
Photoluminescence properties of ZnGa2O4:Mn phosphor powders
机译:
ZnGa2O4:Mn荧光粉的光致发光性能
作者:
Tuyen K. Tran
;
Georgia Institute of Technology
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
W.G. Park
;
Georgia Institute of Technology
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
J.W. Tomm
;
Georgia Institute of Technology
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Brent K. Wagner
;
Georgia Institute of Technology
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Stuart M. Jacobsen
;
Georgia Institute of Technology
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Christopher J. Summers
;
Georgia Institute of Technology
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
P.N. Yocum
;
David Sarnoff Research Ctr.
;
Princeton
;
NJ
;
USA
;
S.K. McClelland
;
David Sarnoff Research Ctr.
;
Princeton
;
NJ
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
29.
Optical and electrical properties of iodine-doped HgCdTe alloys and superlattices grown by metalorganic molecular beam epitaxy
机译:
金属有机分子束外延生长掺碘的HgCdTe合金和超晶格的光学和电学性质
作者:
Christopher J. Summers
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Ashesh Parikh
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Tuyen K. Tran
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
J.W. Tomm
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
P.Schafer
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Nancy C. Giles
;
West Virginia Univ.
;
Morgantown
;
WV
;
USA
;
S.D. Pearson
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Rudolph G. Benz
;
II
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Brent K. Wagner
;
Georgia Tech Research Institute
;
Atlanta
;
GA
;
USA
;
Robert N. Bicknell-Tassius
;
Georgia Tech Research Institute
;
Wuerzburg
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
30.
Recent progress in the doping of MBE HgCdTe
机译:
MBE HgCdTe掺杂的最新进展
作者:
Sivalingam Sivananthan
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Chicago
;
IL
;
USA
;
P.S. Wijewarnasuriya
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Chicago
;
IL
;
USA
;
Jean-Pierre Faurie
;
Univ. of Illinois/Chicago
;
Mougins
;
France.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
31.
Homojunction interfacial workfunction internal photoemission (HIWIP) infrared detectors
机译:
同质界面界面功函数内部光发射(HIWIP)红外探测器
作者:
A. G. Unil Perera
;
Georgia State Univ.
;
Atlanta
;
GA
;
USA.
会议名称:
《Growth and Characterization of Materials for Infrared Detectors II》
|
1995年
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