...
机译:C_(60〜(n +))二次离子质谱深度分析中的界面及其位置分析
机译:C_(60〜(n +))二次离子质谱深度分析中的界面及其位置分析
机译:一氧化氮气体计量改进具有挑战性的聚合物的二次离子质谱C_(60)〜(n +)溅射深度分析
机译:飞行时间二次离子质谱分析用于深度剖析金/硅和砷化镓多层样品的C_(60)〜+和Cs〜+溅射离子
机译:通过图像深度轮廓二次离子质谱(SIMS)表征GaN膜中的衬底/膜界面
机译:使用二次离子质谱法对半导体材料中注入物种的轮廓进行实验研究。
机译:使用改良的Orbitrap进行高分辨率天然质谱分析对完整单克隆抗体上的复合糖基化分布图和其他微异质性进行深入的定性和定量分析
机译:使用C60二次离子质谱法的掩埋脂质双层分子深度分析
机译:三维元素分析的二次离子质谱图像深度剖析