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A 1.0-V 12-bit Digitally Calibrated SAR ADC Using Hybrid DAC Technique

机译:使用混合DAC技术的1.0V 12位数字校准SAR ADC

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摘要

A 1.0-V, 12-bit, 80-MS/s two time-interleaved successive approximation register (SAR) ADC with 1.2-V differential full-scale voltage is presented. To minimize the circuit area, a hybrid DAC which consists of the capacitor and the resistor DACs is proposed, where the resistor DAC has little impact on the area, 6%. On-chip logic calibrates errors of the DAC in the individual channels and the channel-to-channel gain error and offset. The ADC achieves 61.8 dB peak SNDR and 78.8 dB peak SFDR at 80-MS/s and consumes 10.7 mW (6.8 mW, excluding a reference voltage generator). Over 60 dB SNDR is achieved among all measured chips.
机译:提出了一个具有1.2V差分满量程电压的1.0V,12位,80MS / s的两个时间交错的逐次逼近寄存器(SAR)ADC。为了最小化电路面积,提出了一种由电容器和电阻器DAC组成的混合DAC,其中电阻器DAC对面积的影响很小,仅为6%。片上逻辑可校准各个通道中DAC的误差以及通道间增益误差和失调。 ADC在80-MS / s时达到SNDR峰值为61.8 dB,SFDR峰值为78.8 dB,功耗为10.7 mW(6.8 mW,不包括参考电压发生器)。在所有被测芯片中,SNDR均超过60 dB。

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