ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減

摘要

本論文では，ランレングス符号化によるテストデータ量削減効率の向上手法を提案する．提案手法は，与えられたテストパターンに対して，故障検出率を低下させることなく値を1から0に変換できるビットを特定し，そのビット値を変換することで，長く連続する0を多く持つテストパターンに変換するものである．値を変換可能なビットはドントケア判定により求めるが，このとき変換するビットによって削減できるテストデータ量が異なることに注目する．論理値が1の各ビットについて，値を0に変換したときのランレングス符号化によるテストデータ量削減ビット数を前もって計算することにより，データ量削減効果の高いビットをピンポイントに指定する．そのビットが優先的にドントケアとなるようにテストパターンを変換し，テストデータ量削減に最適なテストパターンを求めることができる．ベンチマーク回路に対する実験では，提案手法によりテストデータ量を平均で55％削減できた．