現行規格における各種パーテイクルカウンターの校正方法の差異

摘要

光散乱式、光遮断式に関わらず、パーティクルカウンターで粒子の形状や組成を判別することば不可能である。 従って、測定対象が異なる様々な分野で使われているパーティクルカウンターに対して、分野ごとに独自の校正方法が存在するのは、ある意味でやむを得ないことである。 また、各分野において、既存規格との整合や過去の測定結果との互換性を考えたときに、異なる規格を採用するのは容易なことではない。しかし、各分野や各国で共通に適用できるパーティクルカウンターの規格ができれば、それはユーザーやメーカーにとって有益なものとなるのではないだろうか。 将来、パーティクルカウンターの酪一規格が取り入れられることを、開発に携わる一技術者として強く望む次第である。