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「テストと信頼性」-最新テスト技術動向と信頼性向上へのテストの役割-2004年度第3回関西支部講演会報告-

机译:“测试与可靠性”-最新的测试技术趋势以及测试在提高可靠性中的作用-2004年第三届关西分公司报告的报告-

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摘要

関西支部2004年度第3回目の講演会は1月28日(金)に中央電気倶楽部で開催されました.日の講演者は,NECエレクトロニクス(株)の真田克氏にお願いしました.当日の参加者は26名で会議室が満員となる盛況ぶりでした。 冒頭に支部役員から,関西ではこのような講演会や見学会の年間行事を積極的に行っており,今後もこのような活動を継続していくという請の後,講師の紹介(真出氏は,LSIの評価·解析技術を専門にされており,これまで発明奨励賞など数々の賞を受賞されている)があり,講演が始まりました.
机译:关西分公司2004年第三次演讲于1月28日星期五在中央电玩俱乐部举行。当天的演讲者是NEC Electronics Co.,Ltd.的Katsutoshi Sanada先生。当天的与会者人数为26,会议室已满。一开始,分公司职员每年在关西积极举办此类讲座和参观活动,并在要求他们将来继续进行此类活动后,介绍了讲师(Made先生)。专门从事LSI评估和分析技术,并获得了许多奖项(例如发明鼓励奖),并且讲座开始了。

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