首页> 外文期刊>信頼性 >半導体デバイスの信頼性基礎講座(5)-金属配線の故障物理-
【24h】

半導体デバイスの信頼性基礎講座(5)-金属配線の故障物理-

机译:半导体器件可靠性基础课程(5)-金属布线的失效物理-

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

大規模集積回路(Large Scale Integration:以下,LSI)の発明から今日まで,配線技術の占める役割は常に大きい.2000年のノーベル物理学賞は「集積回路の発明」を称えてジャック·キルビーらが受賞した.彼が発明した,半導体回路を一つのチップ上に形成するというアイデアに対するものである.
机译:从大规模集成(LSI)的发明到今天,布线技术一直发挥着重要作用。 Jack Kilby等人荣获2000年度诺贝尔物理学奖,以表彰“集成电路的发明”。这是他发明的在一个芯片上形成半导体电路的想法。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号