型技術の「見える化」を支える計測技術の最新動向

摘要

「見える化」の方法として必要不可欠であるのが計測である。一方、計測技術も大きな変革が始まっている。計測データ処理技術の飛躍的な発展はいうまでもなく、光学式測定法の精度向上と多様化やX線CT の活用領域の拡大が計測技術の高度化を加速させている。さらに計測基盤であるメトロロジーの進化は、計測技術に広範な波及効果をもたらし始めている。これらの計測技術の動向によって、型技術の変革も着実に進んでいる。そこで本稿では、最新の計測技術がもたらす変革について概説し、それによって型技術の見える化における計測技術の役割がどのように変化してきているのかについて、型技術を取り巻く環境の変化による新たな課題との関係性から探ってみる。