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スパッタリング法によるErドープTaO_x薄膜の作製とその発光特性

机译:溅射法制备掺Er的TaO_x薄膜及其发射特性

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摘要

rfスパッタリングによりErドープTaO_x薄膜を成膜し,アニール後,波長550nm及び670nm付近の2つの発光ピークが発現することを確認した.他の手法で作製されたErドープTaO_xと同様,波長550nm付近の発光ピークが優勢であり,肉眼では緑色発光として観察することができた.更に,Er濃度0.96mol%程度,アニール温度900℃,アニール時間20分とした場合が,波長550nm付近のピーク強度が最大となることがわかった.
机译:通过rf溅射形成掺Er的TaO_x薄膜,并且在退火之后,证实了出现了波长在550nm和670nm附近的两个发射峰。类似于通过其他方法产生的掺Er的TaO_x,在550 nm波长附近的发射峰占主导,并且可以用肉眼观察为绿色发射。此外,发现当Er浓度为约0.96mol%,退火温度为900℃,退火时间为20分钟时,在550nm的波长附近的峰值强度最大。

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