最新型の超小型膜厚計

摘要

世の中に存在する工業製品や設備，電子部品など，防錆や外観，電気特性など，目的に応じて塗装やメッキ処理を施した物が数多く存在している。 近年，個々の製品性能の向上や質量の軽減など,塗装膜の厚さやメッキの厚さ管理の重要性が大きく認識されている。 このような厚さを測定する手段として,膜厚計と言われる測定器が世の中に登場して五十余年になる。当時は，塗装前後での質量差を測定したり，断面を顕微鏡などで測定し，被測定物の膜厚を測定していたが,ここ40年で被測定物を破壊せず，簡易に測定する方法が開発されてきた。 その中で蛍光X線測定方法,ベータ線後方散乱量測定方法などは，高価であり装置自体も大きく現場向きではなかった。また,小型の電磁式/渦電流式膜厚計は，測定部（以下"プローブ"と略す）と演算処理/表示部（以下"本体"と略す）がケーブルで接続されており,断線や使用方法に制限があったり，測定値が本体側でしか確認できないなどの使用者側への制限があった。