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薄膜BOX-SOIにおける基板バイアス効果を利用した動的なマルチVth設計の検討

机译:使用薄膜BOX-SOI中的衬底偏置效应检查动态Multi-Vth设计

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摘要

薄膜BOX-SOI(Silicon on Thin BOX:SOTB)というFD-SOIデバイスは0.4Vという超低電圧で動作し,基板バイアス効果によりトランジスタの閾値を大きく変動させることが可能である.本研究ではこの特性を利用し高閾値のみで構成された回路を設計した後,使用時には回路内の高速動作を必要とする部分のみを基板バイアス効果により閾値を下げることにより,ウェハの製造工程を増やすことなくマルチVthを実現する手法を提案する.提案手法により32ビット加算回路を設計した結果,通常閾値のみの回路に比べ遅延時間を増やすことなく約43%のリーク電力を削減可能であることが分かった.
机译:名为Thin BOX-SOI的FD-SOI器件(Thin BOX上的硅:SOTB)在0.4 V的超低电压下运行,并且可以通过衬底偏置效应极大地改变晶体管的阈值。在这项研究中,在利用该特性设计仅由高阈值组成的电路之后,仅在使用过程中需要高速操作的电路部分中,通过衬底偏置效应降低阈值来执行晶圆制造工艺。我们提出了一种在不增加Vth的情况下实现它的方法。通过所提出的方法设计32位加法器电路的结果,发现与仅具有正常阈值的电路相比,在不增加延迟时间的情况下可以将泄漏功率减少大约43%。

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