［ポスター講演］SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法の検討

摘要

SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を検討した．電子透かしでは，幾何学的攻撃を受けた場合でも正確に透かし情報を抽出できることが求められる．幾何学的攻撃とは，画像の拡大縮小やクリッピングなどによって画像座標が変化する攻撃のことである．この場合，画素の座標が大幅に変化し，透かしを抽出することが困難になる．そのため，拡大縮小に対して不変な特徴点を基に透かしを埋め込む方法が考えられる．SIFTは拡大縮小に不変性を持つ特徴点検出器の1つであり，画像の勾配に基づいて特徴点を検出することができる．SIFT特徴点を用いた従来法では，特徴領域に直接透かし情報を埋め込むため，同一特徴点の再検出率が低下する問題がある．透かし埋め込みの影響を軽減するために，SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を提案する．透かし抽出において，多数の特徴点から透かし情報を抽出することができる．しかしながら，抽出した透かし情報の中には，誤りを含むものがある．そこで，多数決を導入する．SIFTによる同一特徴点の再検出率と，透かし情報のビット誤り率を用いて従来法と提案手法の性能を比較した．その結果，透かし埋込みによる再検出率を改善することができた．また，攻撃されたステゴ画像に対しても，誤りなく透かし情報を抽出することに成功した．