仏画·掛け軸のX線分析（2：最終回）－苦しみから喜びへ

摘要

絵のXRD分析では必ず直面する“2次元結晶からのデータも含む，X線回折データの解析”という難題は，本誌前号の説明で少しはご理解いただけたものと思う．また，XRDとXRFデータの検出感度は，どのような場合に，どう違うのかも明らかになりつつある．したがって，文化財分析の楽しさは，これから益々増えること請け合いである．このようにXRDやXRFデータの解析環境が整いつつある今，理系人の1人でも多くが，この分野へ参入して来る日を，筆者らは心待ちにしている．