Просвечивающая электронная микроскопия пузырьков гелия в состаренном плутонии

摘要

Повреждения, создаваемые при альфа-распаде плутония, приводят к образованию дефектов решетки, атомов гелия и урана. Изменения в микроструктуре, происходящие в процессе самооблучения, могут влиять на физические и механические свойства материала. Для оценки этих изменений мы разработали методики подготовки образцов сплавов плутония и использовали их для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). В сплавах Pu-Ga, хранившихся разное время до 42 лет, методом ПЭМ были выявлены пузырьки гелия наноразмеров. Для восьми образцов плутония различных сроков хранения были определены плотность пузырьков и их средний размер.