透射电子显微镜-能谱中载网支持膜所含杂质成分的影响与分析

摘要

载网支持膜是透射电子显微镜测试的前提与保障,但在透射电子显微镜-能谱测试中发现其存在外源杂质元素污染的情况.对市面上的各类常规载网支持膜进行检测,显示其均含有杂质元素Si.外源杂质元素的存在严重造成了样品透射电子显微镜-能谱数据结果的误差.为防止杂质元素的干扰和混淆,本文分析确认了载网支持膜杂质的来源,是由于制膜过程中未去除含Si助剂的清洗剂成份,而其生成的硅胶SiO2与Formvar膜生成了氢键结合,吸附于支持膜表面.