順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮·消費電力削減への応用について

摘要

本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提案する．ここでは，故障シミュレーションを行ってドントケア値を発見する手法を基に，さらに多くのドントケア値を発見するための二つの手法を提案する．また，得られたドントケア値を含むテスト系列を用いた応用として，消費電力削減法とテスト圧縮法を提案する．これらの手法を用いることによって，低消費電力かつ短いテスト系列を得ることが可能となる．