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連続フロー型質量分析計による固体試料の炭素·硫黄同位体比分析:高精度分析のための改善点

机译:连续流动质量分析仪对固体样品的碳硫同位素比分析:高精度分析的改进

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摘要

従来,軽元素安定同位体比の分析にはDual Inlet(DI)装置を伴う質量分析計が用いられてきた。 この方法では,2つのベローズにそれぞれ試料ガス,同位体比既知の標準ガスを閉じ込め,バルブ操作により交互に質量分析計に導入する。そして,ビーム強度をそれぞれ積算し,その比較により同位体比を求める。 一方,近年では連続フロー(Continuous-Flow;CF)型質量分析計が発展してきた。 この方法では,キャリアーガスとして使うHeフローの途中に,反応管·ガスクロマトカラム等を設置し,オンラインでガスの生成·精製を行い,Heガスとともに試料ガスを質量分析計に導入する(Fig.1)。 大量の精製したガスをベローズに閉じ込める必要があるDI型に比べて,CF型質量分析計を用いることで迅速·簡便に高感度の同位体比分析が可能となった。 この方法の導入により,従来には扱うことのできなかった微量成分についての同位体比分析ができるようになり,CF型同位体比質量分析計を用いた多くの研究がなされるようになった(例えば,Brenna el al.(1997)を参照のこと)。
机译:常规地,已经使用配备有双入口(DI)装置的质量分析仪来分析轻元素的稳定同位素比。在这种方法中,将具有已知同位素比的样品气体和标准气体限制在两个波纹管的每一个中,然后通过操作阀将它们交替引入质量分析仪中。然后,将束强度积分并通过比较获得同位素比。另一方面,近年来,已经开发了连续流(CF)型质量分析仪。在这种方法中,将反应管,气相色谱柱等安装在用作载气的He流的中间,在线生成和纯化气体,然后将样品气体与He气体一起引入质量分析仪中(图。 1)。与要求将大量净化气体限制在波纹管中的DI型相比,CF型质量分析仪可以快速,轻松地进行高灵敏度同位素比分析。随着该方法的引入,可以对过去无法处理的痕量成分进行同位素比分析,并且已经使用CF型同位素比质量分析仪进行了许多研究。 (参见,例如,Brenna等人(1997))。

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