机译:使用氧化银作为沉淀剂通过离子色谱法测定富含氯化物的样品中的痕量阴离子,可降低氯化物基质的影响。
Chloride Ion; disilver oxide; Dionex; Adjudication; Minute of time;
机译:使用氧化银作为沉淀剂通过离子色谱法测定富含氯化物的样品中的痕量阴离子,可降低氯化物基质的影响。
机译:分光光度法测定N,N-二苯肼与变色酸的氧化偶合催化光度法测定富氯样品中的钒。
机译:基质全部和部分还原分离后的电热原子吸收光谱法测定高纯度银中的痕量元素
机译:预测底灰与富含氯化物的水泥粉尘反应过程中的微量元素流量
机译:减少痕量元素测定中基质干扰的方法。
机译:由硅烷阴离子MeSiC4Ph4合成11-双(1-甲基/氯-2345-四苯基-1-硅环戊二烯基)Ph4C4Si(Me / Cl)-(Me / Cl)SiC4Ph4 −•Li +或Na +和Silole Dianion SiC4Ph4 2-•2 Li +;氯化亚铁(FeCl2)对硅阴离子MeSiC4Ph4-•Li +或Na +的氧化偶联和氯化铜(CuCl2)对硅阴离子SiC4Ph4 2-•2 Li +的氧化偶联和氯化处理
机译:离子色谱法同时测定燃烧气体中氯化氢,氮氧化物和硫氧化物。
机译:用氯离子阴离子交换从废直接氧化还原盐中回收钚