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机译:一种使用共振频率测量提取多层MEMS结构材料参数的简单方法
Multilayered beam; Young's modulus; Residual stress; Resonant frequency;
机译:一种使用共振频率测量提取多层MEMS结构材料参数的简单方法
机译:使用表面轮廓仪测量悬浮MEM结构上残余应力的简单分析方法
机译:基于噪声功率测量的时域和时域分析的噪声参数提取新方法
机译:用于测量MEMS材料和结构的光学方法
机译:薄膜MEMS结构材料特性的光声测量。
机译:Ti / FeNi 6 / Ti / Cu / Ti / FeNi / Ti 6纳米结构多层元件在宽频率范围内的铁磁共振参数的角度依赖性
机译:Ti / Feni 6 / Ti / Cu / Ti / Ti / Ti / Ti / Feni / Ti 6纳米结构多层元素在宽频率范围内的角磁性依赖性的角度依赖性
机译:使用调频信号滤波晶体参数测量(扫频方法):频率范围1 mhz至350 mhz