机译:SiO2和高级电介质3-第三届SiO2和高级电介质研讨会论文集-Fuveau(艾克斯-马赛),法国2000年6月19日至21日-前言
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机译:非氧化物玻璃和高级材料12-第十二届国际非氧化物玻璃和高级材料研讨会论文集-巴西南卡罗来纳州弗洛里亚诺波利斯-2000年4月10日至14日-前言
机译:第五届国际先进材料国际会议B研讨会论文集IUMRS-ICAM'99-高T-c超导体-中国北京,1999年6月13日至18日-前言
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机译:芯片级互连中电介质中导电行为的研究:Al / SiO2互连中缺陷的检测
机译:SiO2薄膜的形貌是介电常数各向异性为负的液晶取向的关键因素
机译:二氧化硅纤维中掺稀土氧化物纳米粒子的生长”,第九届研讨会“ SiO2:先进的介电及相关器件