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机译:反射光谱-极值包络法确定薄膜光学参数的准确性
Thin film; Method of extrema envelopes; Determination of optical parameters;
机译:反射光谱-极值包络法确定薄膜光学参数的准确性
机译:包络法测定硒薄膜的光学常数。
机译:确定薄分子膜中有序参数的改进光学方法,并证明在聚(9,9-二辛基芴-co-bithiophene)中具有最低能量的π-π〜*光学跃迁的高轴向偶极矩
机译:使用包络法和逆合合成方法的光学常数和厚度测定薄膜:比较研究
机译:确定各向异性聚合物薄膜光学常数的新方法:棱镜波导耦合的新应用。
机译:基于先进优化包络法
机译:包络法测定硒薄膜的光学常数。
机译:一种测定薄膜光学和电光性能的测量方法