...
机译:沉积过程中薄膜粗糙度和厚度的原位固定角X射线反射率测量
By-layer growth; Epitaxial-growth; Aluminum; Reflectometry;
机译:沉积过程中薄膜粗糙度和厚度的原位固定角X射线反射率测量
机译:用于薄膜沉积监测和控制的原位X射线反射率
机译:通过X射线反射率和RBS测量估算表面和界面粗糙度
机译:RF磁控溅射沉积过程中五氧化二钽薄膜界面粗糙度的原位X射线反射率测量
机译:使用定角X射线反射仪和衍射技术实时测量膜的生长。
机译:铜基体粗糙度和锡层厚度对锡薄膜晶须生长的影响
机译:利用原位反射率测量和模拟优化光学薄膜沉积
机译:使用能量色散检测测量表面粗糙度的X射线反射率。