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机译:通过X射线反射率和RBS测量估算表面和界面粗糙度
X-ray reflectivity; Rutherford backscattering spectroscopy; surface and interface roughness;
机译:通过X射线反射率和RBS测量估算表面和界面粗糙度
机译:改进表面和界面粗糙度估计值对X射线反射率的影响
机译:使用X射线反射率和TEM观察估算表面和界面粗糙度
机译:X射线反射率测量值与AXAF涂层见证样品表面粗糙度之间的相关性
机译:在固-液和固-气界面的应用实验表面化学:在单层和复合碱和碱土金属(钾改性氧化镁)膜上二氧化碳吸附的超高压研究,并利用Zeta电位探测矿物表面的表面反应动力学和平衡在液体介质中:测量,建模和参数估计。
机译:通过测量各种粗糙度参数评估热解碳手指假体的表面形貌
机译:使用X射线反射率和TEM观察估算表面和界面粗糙度
机译:使用能量色散检测测量表面粗糙度的X射线反射率。