公开/公告号CN215060896U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-12-07
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳市安普检测技术服务有限公司;
申请/专利号CN202120254181.6
申请日2021-01-28
分类号F16M11/20(20060101);G01B7/34(20060101);
代理机构44482 深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙);
代理人李梦男
地址 518000 广东省深圳市宝安区松岗街道红星社区宝安大道8728号2楼、3楼
入库时间 2022-08-23 02:56:48
机译: 用于校准干涉仪系统的测量标准具有不透明层,其表面粗糙度在原子范围内,至少一种具有确定几何形状的结构具有至少一个边缘;层连接到透射基板
机译: 用于表面粗糙度研究的散射光测量装置-使用布置在弯曲支架上的多个接收器阵列接收的散射光的角分辨率
机译: 一种利用动态应变仪测量作用在燃气轮机转子支架上的力的装置