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张亚超; 刘鹏; 王晓光; 何玲平; 陈波;
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033;
中国科学院大学,北京,100049;
表面散射; 粗糙度; 功率谱密度; 掠入射望远镜;
机译:X射线衍射法,掠入射X射线反射法和二次离子质谱法研究多层SiGe半导体结构
机译:X射线衍射掠入射法用于电沉积Ni涂层中无梯度残余应力分布的测量
机译:使用X射线衍射,X射线反射法和掠入射X射线荧光分析表征AlInN / AlN / GaN FET结构
机译:掠入射X射线散射法研究超光滑镜面粗糙度
机译:使用镶嵌探测器阵列优化制造的掠入射X射线望远镜的性能。
机译:最佳掠入射位方法对骨和软组织体模中铅的L壳X射线荧光测量的改进和重现性
机译:使用不同的辐射波长和不同的入射角通过多反射掠入射X射线衍射法(MGIXD)进行应力测量
机译:表面粗糙度对掠入射中镜面反射的中子相位的影响。
机译:使用X射线掠入射面内衍射法测量纳米结构的临界尺寸
机译:多光谱掠入射X射线望远镜
机译:X射线反射法的表面粗糙度和界面粗糙度的评价方法及评价程序
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