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徐光亮; 赵德友; 刘桂香;
西南科技大学材料科学与工程学院新材料研究所;
X射线反射; ZnO基薄膜; 薄膜参数; 曲线拟合;
机译:TiO2-SiO2薄膜的密度,厚度和组成的X射线反射法,椭偏仪和电子探针显微分析耦合
机译:X射线反射法的应用 - 薄膜和多层膜掩埋层/界面密度,膜厚度和粗糙度的测定 -
机译:X射线反射法测定GaAs基和InAs / AlSb基异质结构的厚度和界面粗糙度
机译:X射线反射法精确测定超薄膜的厚度:数据评估和完善
机译:ZnO和ZnO基薄膜合金退火的函数的温度依赖带边缘分布分析
机译:Cu(InGa)Se2基薄膜太阳能电池本征ZnO厚度的优化
机译:用光谱反射法和干涉法分析硅衬底对SiO2薄膜厚度的影响
机译:表面粗糙度和波纹度对弹性流体动力学接触薄膜厚度和压力分布的影响
机译:氧化锌(ZnO)基单晶的制造方法,ZnO基薄膜和ZnO基单晶薄膜,以及ZnO基单晶薄膜和包含该ZnO基单晶薄膜的ZnO基材料
机译:氧化锌(ZnO)基单晶纳米结构,制备ZnO基薄膜和ZnO基单晶薄膜,ZnO基单晶薄膜和ZnO基材料包含ZnO薄膜的方法
机译:石墨烯参考推导方法,使用该方法的纳米薄膜分析方法,X射线分析装置以及具有极细厚度的石墨烯的X射线分析方法
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