机译:红外光谱椭圆偏振法-表征半导体异质结构的新工具
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机译:从可见光到红外的光谱椭偏仪:一种用于薄膜表征的多功能工具
机译:红外光谱椭圆形测定法,用于无损载体和晶体结构性能的非破坏性表征 - III-氮化物半导体器件异质结构
机译:使用光谱椭圆偏振法和高分辨率X射线衍射对IV型半导体合金进行光学表征。
机译:使用红外光谱椭偏仪同时表征聚合物多层的物理化学和热学性质
机译:光谱椭偏仪表征高锗含量的硅锗异质结构和梯度合金层
机译:用变角光谱椭偏仪表征sige / Ge异质结构和渐变层