机译:GaAs / AlAs超晶格AES溅射深度分析中深度分辨率对低能Ar +离子(100-1000 eV)一次能的依赖性
Auger electron spectroscopy (AES); low-energy ions; sputter-depth profiling; GaAs/AlAs superlattice; etching rate; preferential sputtering; TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY; INFORMATION DEPTH; SURFACE-ROUGHNESS; DAMAGED LAYER; IRRADIATION;
机译:GaAs / AlAs超晶格AES溅射深度分析中深度分辨率对低能Ar +离子(100-1000 eV)一次能的依赖性
机译:使用掠入射低能O-2(+)和Ar +离子对Si层进行溅射深度分析的亚纳米深度分辨率
机译:GaAs / AlAs多层系统低能Ar +离子溅射的入射角和能量依赖性
机译:GaAs低能离子辐照的溅射行为和深度分辨率的演变
机译:溅射中性分子的强场光电离,用于化学成像和深度分析。
机译:AlAsGaAs和GaAs / AlAs超晶格的低能辐射响应及其对电子结构的损伤作用的比较研究
机译:通过量化AES和SIMS溅射深度剖面来重建GaAs / AlAs超晶格多层结构