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机译:原子溅射显微镜观察的垂直入射氧轰击下硅的表面凹陷
Silicon; Oxygen implantation; Transient phenomena; Surface recession; Sio2 formation; Induced electron-emission; Sims analysis; Primary ions; Depth; Oxidation; Energy; Interface; Beam;
机译:原子溅射显微镜观察的垂直入射氧轰击下硅的表面凹陷
机译:通过非接触原子力显微镜研究和扫描隧道显微镜研究的CEO_2(111)表面上的原子分辨图像和表面氧原子的动态行为和表面氧原子和吸附分子
机译:非接触原子力显微镜研究TiO_2(110)表面上通过线氧空位形成的表面羟基的链结构
机译:用光散射和原子力显微镜研究溅射氧化锡膜的表面粗糙度
机译:通过原子氧等离子体生长的二氧化硅/硅(111)-(7 x 7)的原子力显微镜研究
机译:氧响应对BiFe0.95Mn0.05O3薄膜的畴动态和局部电学特性的压电响应力显微镜和导电原子力显微镜研究
机译:氧压对BiFe0.95mn0.05O3薄膜的畴动力学和局域电学性质的影响研究piezoresponse力显微镜和导电原子力显微镜
机译:扫描隧道显微镜和原子力显微镜表征聚苯乙烯旋涂在硅表面上