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Silicon Surface and Interface Issues for Nanoelectronics

机译:纳米电子学的硅表面和界面问题

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摘要

The silicon-based roadmap (International Technology Roadmap for Semiconductors, ITRS), provides a pathway for silicon-based technology until approx 2020. Success is heavily dependent dielectric layer (and gate electrode) is one of the most critical issues. Whether grown by MOCVD, MBE, ALD, or thermally, ultrathin dielectric films can be achieved only with the highest control of the initial surface chemical configuration and the process itself. This will be accomplished through the tools and techniques of surface science and the creativity of materials scientists.
机译:基于硅的路线图(国际半导体技术路线图,ITRS)为直到2020年的基于硅的技术提供了一种途径。成功的关键在于电介质层(和栅电极)的高度依赖。无论是通过MOCVD,MBE,ALD还是通过热法生长,只有在对初始表面化学结构和工艺本身进行最高控制的情况下,才能实现超薄介电膜。这将通过表面科学的工具和技术以及材料科学家的创造力来实现。

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