机译:X2固定器在FIB进行HRTEM品质TEM样品制备中的实际应用
FIB; TEM specimen preparation; Sample thickness; Backscattered electrons; EDX; Monte; Carlo simulations; Sub-kV argon milling;
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机译:从SEM截面到TEM样品-通过“补充”技术制备FIB样品的新功能
机译:通过FIB进行的煤清洁废料的研究以及用于HR-TEM的样品制备:用于健康研究的矿物表面化学和纳米颗粒聚集控制
机译:侧向FIB TEM样品制备可改善TEM中的结构分析
机译:用于TEM分析的碳纳米管复合样品制备的切片机切割工艺的改进。
机译:用于盒式低温TEM的低温FIB样品制备
机译:FiB,TEM,纳米粒子和STXM-NEXAF的通用样本仪表,用于各外星材料的协调分析