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Conference on Noise in Devices and Circuits
Conference on Noise in Devices and Circuits
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1.
Energy Barriers, Demons, and Minimum Energy Operation of Electronic Devices
机译:
能量障碍,恶魔和电子设备的最小能量运行
作者:
Ralph K. Cavin III
;
Victor V. Zhirnov
;
James A. Hutchby
;
George I. Bourianoff
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
binary switch;
energy barrier;
reversible computing;
adiabatic switching;
maxwell's demon;
2.
Low frequency noise of light emitting diodes
机译:
发光二极管的低频噪声
作者:
S. L. Rumyantsev
;
S. Sawyer
;
N. Pala
;
M. S. Shur
;
Yu. Bilenko
;
J. P. Zhang
;
X. Hu
;
A. Lunev
;
J. Deng
;
R. Gaska
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
light emitting diode;
LED;
low frequency noise;
1/f noise;
GaN;
gallium nitride;
ultraviolet light;
UV;
3.
Investigating the Differences in Low-Frequency Noise Behavior of npn and pnp SiGe HBTs Fabricated in a Complementary SiGe HBT BiCMOS on SOI Technology
机译:
研究SOI技术互补SiGe HBT BICMOS制造的NPN和PNP SiGe HBT的低频噪声行为的差异
作者:
Enhai Zhao
;
Ramkumar Krithivasan
;
Akil K. Sutton
;
Zhenrong Jin
;
John D. Cressler
;
Badih El-Kareh
;
Scott Balster
;
Hiroshi Yasuda
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
SiGe HBTs;
1/f noise;
low-frequency noise;
complementary;
interfacial oxide;
4.
Hot carrier effects on jitter and phase noise in CMOS voltage-controlled oscillators
机译:
CMOS电压控制振荡器中的抖动和相位噪声的热载波效应
作者:
Chi Zhang
;
Ashok Srivastava
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
phase-locked loop (PLL);
CMOS VCO;
hot carriers;
jitter;
phase noise;
device degradation;
thermal noise;
5.
Trap competition inducing R.T.S noise in saturation range in N-MOSFETs
机译:
陷阱竞争诱导R.T.S在N-MOSFET中饱和范围内的噪声
作者:
C.LEYRIS
;
A.HOFFMANN
;
M.VALENZA
;
J-C.VILDEUIL
;
F.ROY
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
N-MOSFETs;
l/f;
R.T.S fluctuations;
saturation range;
trap competition;
multi-trap activities;
6.
Characterization of 1/f noise in GaN-based HEMTs under high dc voltage stress
机译:
高直流电压应力下GaN的悬臂中1 / f噪声的表征
作者:
S.K. Jha
;
C.F. Zhu
;
E. Jelenkovic
;
K. Y. Tong
;
C. Surya
;
H. Schweizer
;
M. Pilkuhn
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
7.
Comparison of 1/f noise in complementary NPN and PNP polysilicon emitter bipolar transistors
机译:
互补NPN和PNP多晶硅发射极双极晶体管1 / F噪声的比较
作者:
Mazhar UL Hoque
;
Zeynep Celik-Butler
;
Joe Trogolo
;
Douglas Weiser
;
Keith Green
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
1/f noise;
polysilicon emitter bipolar transistors;
interfacial oxide;
tunneling fluctuations;
diffusion fluctuations;
8.
1/f noise in SOI buried oxides and alternative dielectrics to SiO_2
机译:
SOI掩埋氧化物和替代电介质的1 / f噪声与SIO_2
作者:
Daniel M. Fleetwood
;
Hao D. Xiong
;
Jonathan S. Lin
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
1/f noise;
silicon-on-insulator (SOI);
high-K dielectrics;
MOSFETs;
radiation effects;
buried oxide;
total dose;
oxide traps;
quasi double-gate mode;
9.
Nanoscale MOS devices: device parameter fluctuations and low-frequency noise
机译:
纳米级MOS设备:设备参数波动和低频噪声
作者:
Hei Wong
;
Hiroshi Iwai
;
J. J. Liou
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
flicker noise;
nanoscale MOS transistor;
parameter fluctuation;
tunneling oxide;
10.
A physical understanding of the noise performance of MOS transistors for wireless and lightwave applications in the giga-bit regime
机译:
对GIGA钻头制度中无线和光文应用的MOS晶体管噪声性能的物理理解
作者:
R. P. Jindal
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
MOSFET noise;
CMOS noise;
thermal noise;
induced gate noise;
gate resistance noise;
substrate resistance noise;
hot-carrier noise;
excess channel noise;
wireless circuits and systems;
optical circuits and systems;
11.
High Frequency Noise of SOI MOSFETs: Performances and Limitations
机译:
SOI MOSFET的高频噪声:性能和限制
作者:
Francois Danneville
;
Guillaume Pailloncy
;
Alexandre Siligaris
;
Benjamin Iniguez
;
Gilles Dambrine
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
12.
Noise in SiGe HBTs: Opportunities and Challenges
机译:
SiGe HBTS的噪音:机会和挑战
作者:
John D. Cressler
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
SiGe HBT;
silicon-germanium;
heterojunction bipolar transistor;
noise;
1/f noise;
broadband noise;
13.
Exploiting metastability and thermal noise to build a re-configurable hardware random number generator
机译:
利用稳定性和热噪声构建可重新配置的硬件随机数发生器
作者:
Daihyun Lim
;
Damith C. Ranasinghe
;
Srinivas Devadas
;
Behnam Jamali
;
Derek Abbott
;
Peter H. Cole
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
PUFRNG;
metastability;
statistical testing;
chaos theory;
thermal noise;
14.
Anomalous Low-Frequency Noise Behavior in 210 GHz SiGe HBTs
机译:
210 GHz SiGE HBTS中的异常低频噪声行为
作者:
Zhenrong Jin
;
Jarle A. Johansen
;
John D. Cressler
;
Alvin J. Joseph
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
flicker noise;
1/f noise;
low-frequency noise;
SiGe HBT;
BJT;
15.
Studying the Dependence of Low-Frequency Noise on Geometrical Shape of Al-Based Thin Film Interconnects
机译:
低频噪声对基于铝薄膜互连的几何形状的依赖性研究
作者:
Kuldeep S. Rawat
;
Gholam H. Massiha
;
Jayanta Choudhury
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
low-frequency noise;
metal thin films;
VLSI interconnects;
noise measurement system;
noise spectral densityq;
16.
Analysis and simulation of noise in correlated double sampling imager circuits
机译:
相关双采样成像电路噪声的分析与仿真
作者:
Leonard Forbes
;
Harish Gopalakrishnan
;
Weetit Wanalertlak
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
17.
Flicker Noise in Nitrided High-k Dielectric NMOS Transistors
机译:
氮化高k电介质NMOS晶体管的闪烁噪声
作者:
Bigang Min
;
Siva Prasad Devireddy
;
Zeynep Celik Butler
;
Ajit Shanware
;
Keith Green
;
J. J. Chambers
;
M. V. Visokay
;
Luigi Colombo
;
A. L. P. Rotondaro
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
low-frequency noise;
high-k dielectrics;
HfSiON;
SiON;
MOSFET;
18.
Two-Photon Correlation of Photon Pairs: Near Field and Polarization Effects
机译:
光子对的双光子相关性:近场和极化效应
作者:
C. H. Raymond Ooi
;
Anil K. Patnaik
;
Marian O. Scully
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
two-photon correlation;
quantum eraser;
spontaneous raman;
photon pairs;
antibunching;
quantum interference;
near field;
19.
A sampling wattmeter for noise power measurements
机译:
用于噪声功率测量的采样瓦特计
作者:
Luca Callegaro
;
Marco Pisani
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
johnson noise;
wattmeter;
noise power;
noise thermometry;
20.
Flicker noise characteristics of MOSFETs with HfO_2, HfAlO_x and Al_2O_3/HfO_2 gate dielectrics
机译:
使用HFO_2,HFALO_X和AL_2O_3 / HFO_2栅极电介质的MOSFET的闪烁噪声特性
作者:
Siva Prasad Devireddy
;
Bigang Min
;
Zeynep Celik-Butler
;
Fang Wang
;
Ania Zlotnicka
;
Hsing-Huang Tseng
;
Philip J Tobin
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
low-frequency noise;
high-k dielectric;
hafnium oxide;
aluminum oxide;
MOSFET;
21.
Nano Device for Monitoring Electrical Fluctuations on Bacteria Scale
机译:
用于监测细菌规模电波动的纳米装置
作者:
Sungkyu Seo
;
Jong Kim
;
Maria Dobozi-King
;
Ryland F. Young
;
Sergey. M. Bezrukov
;
Laszlo B. Kish
;
Mosong Cheng
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
nano device;
biochip;
sensor;
electrical fluctuation;
noise;
current;
bacteria;
bacteriophage;
specificity;
22.
Quantum Optics as Enabling for Quantum Information Science
机译:
量子光学器件作为量子信息科学的启用
作者:
H. J. Kimble
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
quantum optics;
cavity quantum electrodynamics;
quantum information;
23.
Low-frequency Noise Measurements used for semiconductors light active devices
机译:
用于半导体光源器件的低频噪声测量
作者:
Jiri Vanek
;
Zdenek Chobola
;
Vladimir Brzokoupil
;
Jiri Kazelle
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
low frequency noise;
diagnostic;
V-A characteristics;
laser diodes;
silicon;
solar cells;
24.
Noise behaviour of a PNP- and NPN-type SiGe HBT, a simulation study
机译:
PNP和NPN型SiGe HBT的噪声行为,模拟研究
作者:
B. Neinhues
;
C. Jungemann
;
B. Meinerzhagen
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
noise;
SiGe;
HBT;
hierarchical simulation;
25.
Low-frequency Noise Parameter Extraction in Poly-Si Thin-Film Transistors
机译:
多Si薄膜晶体管中的低频噪声参数提取
作者:
Hyungdo Nam
;
Hae-Suk Yang
;
Jungil Lee
;
Alain Chovet
;
Bela Szentpali
;
Eunkyu Kim
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
polycrystalline silicon thin film transistors;
low frequency noise;
number fluctuation;
thermal activation;
tunneling;
grain boundary barrier height;
26.
Low Frequency Noise in SOI Transistors
机译:
SOI晶体管中的低频噪声
作者:
Tony Tseng
;
J. C. S. Woo
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
27.
Different Noise Mechanisms in High-k Dielectric Gate Stacks
机译:
高k电介质栅极堆叠的不同噪声机制
作者:
Zeynep Celik-Butler
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
low-frequency noise;
high-k dielectric;
MOSFET;
28.
Physics of GaN Devices
机译:
GaN设备的物理学
作者:
Michael S. Shur
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
29.
Investigation of the trap states and their effect on the low-frequency noise in GaN/AlGaN HFETs
机译:
调查陷阱状态及其对GaN / AlGan HFET中低频噪声的影响
作者:
W.L. Liu
;
Y.L. Chen
;
A.A. Balandin
;
K.L. Wang
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
traps;
noise;
capacitance-voltage profiling;
GaN HFET;
30.
A combined noise analysis and power supply current based testing of CMOS analog integrated circuits
机译:
CMOS模拟集成电路的组合噪声分析与电源电流测试
作者:
Ashok Srivastava
;
Vani K. Pulendra
;
Siva Yellampalli
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
noise in CMOS op-amp;
MOS noise model;
power supply current testing;
analog CMOS;
fault injection;
31.
A simple noise modeling based testing of CMOS analog integrated circuits
机译:
基于CMOS模拟集成电路的简单噪声建模
作者:
Siva Yellampalli
;
Ashok Srivastava
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
CMOS amplifier;
MOS noise modeling;
fault injection transistor;
CMOS analog testing;
32.
MOSFET 1/f Noise Under Switched Bias Conditions
机译:
切换偏置条件下的MOSFET 1 / F噪声
作者:
Michael. Y. Louie
;
L. Forbes
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
noise;
1/f noise;
switched bias;
transients;
33.
Why did Intel fail with 60 nanometers? Reiteration of the noise, information, speed and heat aspects of the breakdown of Moore's Law
机译:
为什么英特尔用60纳米失败?重申摩尔定法崩溃的噪声,信息,速度和热量方面
作者:
Laszlo B. Kish
;
Yingfeng Li
会议名称:
《Conference on Noise in Devices and Circuits》
|
2005年
关键词:
leak current;
Moore's law;
power dissipation;
switching noises;
thermal noise;
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