机译:NoC路由器FIFO缓冲区中永久性故障的现场测试
Department of Computer Science and Engineering, IIT Kharagpur, Kharagpur, India;
FIFO buffers; NoC; in-field test; permanent fault; transparent test; transparent test.;
机译:使用针对技术的基于LUT的FPGA的优化,为NoC路由器高效实现FIFO缓冲区
机译:一种有效的NoC中的容错路由算法来容忍永久性故障
机译:利用高效的容错偏转路由器解决NoC中的暂时性和永久性故障
机译:使用BIST测试NoC路由器的FIFO缓冲区
机译:3D-Nocs高性能和容错路由算法的设计与评估
机译:判断:NOCS的基于有效的基于区域分区的拥塞感知路由算法
机译:利用高效的容错偏转路由器解决NoC中的暂时性和永久性故障