Автоматизированная измерительная система для испытаний интегральных микросхем преобразователей Hапряжения

摘要

A testing method has been developed that provides the optimal range of measurement parameters, required to detect latent defects of the developing device. IC chip voltage converter was tested by automated measuring equipment. This testing method allows to keep a high yield with decrease of topological size and complexity of products, as well as to save production startup time due to pre-debugging and optimization of technology processes and structures.%Предложена методика проведения испытаний, обеспечивающая оптимальный выбор контролируемых параметров, необходимых для выявления скрытых дефектов разрабатываемого устройства. При помощи автоматизированного измерительного комплекса проведены испытания интегральной микросхемы преобразователя напряжения. Данный метод позволяет сохранить высокий процент выхода годной продукции при уменьшении топологических размеров и повышении сложности изделий, а также существенно сэкономить время на запуск их в производство за счет предварительной отладки и оптимизации технологических процессов и конструкции.