机译:注入后退火过程中高温Co〜+离子注入Si(100)产生的CoSi_2埋藏结构的演变
Department of Materials Science and Engineering, University of California, Los Angeles, CA 90095, USA;
ion implantation methods; silicides; nucleation; electron microscopy; phase separation; clusters; surface defects;
机译:注入后热退火过程中埋入式氧结构分离氧化物的模拟形成方法
机译:离子注入引起的缺陷对Si(100)中掩埋CoSi_2结构形成的影响
机译:电流对含氯环境中Si:(Er,O)结构的高温后注入退火产生的缺陷的电致发光的影响
机译:氢注入的直拉硅的注入后退火过程中埋层上的吸氧
机译:(100)硅上溅射镍钛薄膜的等温和等时退火过程中的应力演变。
机译:注入后退火过程中辐照的6H-SiC中氦气气泡和圆盘的演变
机译:6H-和4H-SiC,非均匀温度效应中高温铝术后退火的比较研究
机译:在> 1,100℃的温度下对si注入的氮化镓进行注入活化退火