机译:用密度泛函理论研究ErSi _((2-x))的几何和电子结构并与STM图像进行比较
Universit de Franche Comt, Institut FEMTO-ST Dpt CREST, CNRS UMR 6174, 4 place Tharradin, BP 71427, 25211 Montbeliard Cedex, France;
erbium; silicon surface; STM; wien2k simulation; interface; density functional theory;
机译:密度泛函理论与多轴晶体核/瀑布2方法的vgen-/ 0(n = 1-4)簇的几何和电子结构的计算研究
机译:密度泛函理论研究4–叠氮基甲基–6–异丙基–2H–Chromen–2–1的几何和电子结构
机译:[UO2(H2O)(m)(OH)(n)](2-n)(n + m = 5)的几何和电子结构的密度泛函理论研究
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机译:电子结构的两种新方法:分区密度泛函和势泛函。
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机译:几何结构与电子结构比较\ ud 和{FeNO} 7和{FeO2} 8配合物的反应性和反应性:\ ud 密度泛函理论研究
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