机译:直流电压-电压法测量亚微米MOST中的界面陷阱
机译:利用DCIV方法研究Fowler-Nordheim隧穿应力在SOI pMOSFET的Si / SiO_2界面处的界面陷阱
机译:通过DCIV方法监视接口陷阱
机译:用DCIV方法研究LDD pMOST中的界面陷阱
机译:一种新的直流电压-电压方法,用于测量 neep亚微米MOS晶体管中的界面陷阱
机译:金属氧化物半导体器件中硅/二氧化硅界面粗糙度和界面捕获电荷的低温测量。
机译:集成微流控芯片中亚微米粒子的稳定自由空间光学诱捕和操纵
机译:直流和交流条件下带有界面陷阱的p-GeSn / n-Ge二极管的电学特性