退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
张真;
北京科技大学,应用物理系,北京,100083;
四探针法; 接触电势; 磁控溅射; 薄膜;
机译:表面状态和界面对肖特基势垒中电容电压关系的影响
机译:基于具有拟反相关界面的波纹金属薄膜的表面势垒异质结构中表面等离子-极化子的介电环境敏感性增强
机译:界面陷阱和边界陷阱对InGaAs MOSFET中电流-电压,电容-电压和Split-CV迁移率测量的影响
机译:多晶硅晶片的晶界上的势垒对感应耦合电阻率测量的影响
机译:通过电流-电压,电容-电压和内部光发射法测量的四个氢和六个氢碳化硅的(0001),(0001bar),(11bar00)和(12bar10)晶面的肖特基势垒。
机译:利用导纳技术测量Gaas肖特基势垒的界面态:与势垒高度不稳定性的关系
机译:消除扰动电压对测量接地电阻率和地球电阻率的影响的程序
机译:使用相同的低电阻率的金属薄膜和液晶显示装置,以及使用该方法制造低电阻率的金属薄膜的方法和液晶显示装置
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。