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NIMS超高精度に組成分析超伝導検出器で高分解能

机译:NIMS超高精度に组成分析超伝导検出器で高分解能

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摘要

物質·材料研究機構(NIMS、茨城県つくば市)構造材料解析プラットフォームの原徹プラットフォーム長らの研究グループは、透過型電子顕微鏡(TEM)を使った超高精度ナノ組成分析技術を開発した。超伝導検出器を電子顕微鏡に応用し、10ev以下の高いエネルギー分解能を実現した。応用分野は半導体、エネルギー、鉄鋼など幅広く、試料内の添加元素(ドーパント)偏析量の測定、未知構成元素の特定、多種構成元素の精密な組成分析などに活用できる。
机译:国立材料科学研究所(NIMS,茨城县筑波市)结构材料分析平台平台Toru Hara该小组领导的小组已经开发了使用透射电子显微镜(TEM)的超高精度纳米组成分析技术。我们将超导检测器应用于电子显微镜,实现了10 ev或更小的高能量分辨率。它具有广泛的应用领域,例如半导体,能源和钢铁,可用于测量样品中添加元素(掺杂剂)偏析的量,识别未知的构成元素以及各种构成元素的精确组成分析。

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    《半導体産業新聞》 |2018年第2288期|9-9|共1页
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