マルチビーム用いたX線タイコグラフィ理研チームが実証成功

摘要

X線の可干渉性(コヒーレンス)を利用したイメージング技術であるX線タイコグラフィは、高い空間分解能と感度を実現できるX線顕微法だ。レンズを用いて試料像を結像する従来のX線顕微法とは異なり、試料の回折強度パターンに位相回復計算を実行して試料像を再構成するため、これまでレンズ性能によつて制限されてきたX線顕微法の空間分解能を飛躍的に向上させることができる。ただし、X線タイコグラフィは放射光の利用効率が低いことが課題だ。例えば、放射光施設SPring8でX線タイコグラフィに利用可能なコヒーレントX線の割台は、例えば、5keV付近ではビーム全体の0.1%程度とわずかであり、その強度も十分とはいえない。また、コヒーレンスをより向上させた次世代放射光施設でも、利用可能なコヒーレントX線の割合は、ビーム全体の数%程度と見積もられており、ビームの大半をX線タイコグラフィ測定に利用できない。