光学顕微鏡と走査電子顕微鏡 同一箇所の観察が容易に 日立ハイテクからCLEM用システム発売

摘要

日立ハイテクノロジーズ(以下、日立ハイテク)と理化学研究所(理研)は、光学顕微鏡と走査電子顕微鏡による同一箇所の観察を容易にするCLEM用システム、「MirrorCLEM」を共同開発し、7月25日に日立ハイテクより発売した。顕微鏡には様々な種類があり、昨今は、電子顕微鏡と蛍光顕微鏡のように、異なる種類の顕微鏡を用いて観察するCLEM(Correlative light and electron microsgpy：光学顕微鏡と電子顕微鏡のそれぞれを相関して観察する顕微鏡法)が盛んに開発•報告されてきたが、倍率領域•観察項目が異なる顕微鏡同士での同一箇所の観察は容易でなく、この課題に対し、日立ハイテクと理研環境資源科学研究センターの豊岡公徳上級研究員らのグループは、2015年より、GFP(Green Fluorescent Protein：ある波長の励起光を浴びることで緑色に発光する蛍光タンパク質)の蛍光を放つ細胞小器官(細胞内部で分化した形態や機能を持つ構造の総称)の微細構造を観察可能なCLEM用システムの研究開発を行ってきた。