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EUV MASK WITH ANTI-REFLECTIVE LAYER

机译:EUV面罩具有抗反射层

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摘要

Exemplary systems are disclosed for an extreme ultra violet (EUV) mask with an anti-reflective layer on top of an absorber layer to provide an improved musk structure and improved imaging performance.
机译:示例性系统公开了用于极端超紫(EUV)掩模,其在吸收层的顶部具有抗反射层,以提供改进的麝香结构和改善的成像性能。

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    《Research Disclosure》 |2021年第685期|1924-1924|共1页
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