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【24h】

Thermal Conditioning Station for EUV Reticles

机译:用于EUV掩模性的热处理站

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摘要

Methods und devices for providing of thermal conditioning of reticles prior to loading onto reticle stages are provided for use in lithography.
机译:方法提供用于在装载到掩模版级之前提供用于在掩模版阶段之前提供热调节的装置用于光刻。

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    《Research Disclosure》 |2020年第679期|2921-2922|共2页
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