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微量サンプリングPHモニター開発 堀場エステック、半導体製造プロセス向け

机译:微型采样PH监控器开发适用于Horiba STEC,半导体制造工艺

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摘要

堀場エステックはこのほど、500マイリツクロトル(1リツトルの100万分の1)の試料量でPHを連続測定できる世界初の半導体製造プロセス向け微量サンプリングPHモニター「UP-100」を開発した。同装置により、半導体の洗浄やエッチング工程で薬液のPH常時監視が可能になる。薬液の変質を"PHで見える化"することでプロセス不具合の早期発見につながり、品質や生産効率が向上する。
机译:HORIBA STEC最近开发出了世界上第一台用于半导体制造工艺的痕量采样PH监测仪“ UP-100”,该监测仪可以连续测量500个Myritsu crotor(1升的1 /百万分之一)的样品。使用该设备,可以在半导体清洁和蚀刻过程中不断监控化学药品的pH值。通过“可视化用PH改变化学液体的变化”,将导致早期发现工艺缺陷并提高质量和生产效率。

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    《电波新闻》 |2016年第16830期|4-4|共1页
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